射頻導納物位開關工作原理及優勢

發布時間:2020-07-01

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傳統的電容式物位計,隨著物位上升,物料覆蓋探頭,電路中探頭和介質之間的電容值(導電物料場合)或者探頭和管壁之間的電容值(絕緣物料場合)隨之增加.由于物位的變化導致了電容橋的失衡,所以電容值的變化取決于被測物料的介電常數.然后通過對信號的檢波,放大,輸出相應的信號.然而,電容式物位儀表有一些缺點,特別是當探頭有掛料的時候會嚴重影響測量結果.

傳統的電容式物位計,隨著物位上升、物料覆蓋探頭,電路中探頭和介質之間的電容值(導電物料場合)或者探頭和管壁之間的電容值(絕緣物料場合)隨之增加。由于物位的變化導致了電容橋的失衡,所以電容值的變化取決于被測物料的介電常數。然后通過對信號的檢波、放大,輸出相應的信號。然而,電容式物位儀表有一些缺點,特別是當探頭有掛料的時候會嚴重影響測量結果。

射頻導納7.png

射頻導納測量技術是具有優勢的物位測量技術。雖然跟一般的電容式測量技術的概念很相似,但是射頻導納技術在電子單元中加入了Driving-Shield電路和斬波電路,因此能夠實現阻抗和容抗的單獨測量。通過物理定律計算可得,任何掛料的阻抗和容抗的大小是相等的,所以由掛料產生的影響能夠被測量出來并且通過振蕩電路的移相,從總的輸出中去除。

平板.jpg

射頻導納產品的探頭安裝在儲料罐中,通過探頭獲得物位變化引起的射頻信號的變化。
探頭的Driving-Shield端能夠阻止射頻電流通過掛料形成回路,保證了儀表測量的準確性。
射頻導納技術測量結果精度高,并且不受探頭掛料的影響,是目前使用場合較廣的一種測量技術。從低溫-100℃到高溫800℃、從真空到6.3MPa強壓場合、從超短量程到120米超大量程,都能夠正常應用,并且能夠應用于不同類型的物料。
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